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文献
J-GLOBAL ID:201202226897429816   整理番号:12A0946729

食品においてラジカル誘起された電子スピン緩和の振る舞い

Electron Spin Relaxation Behaviors of Radicals Induced in Gamma-irradiated Food
著者 (5件):
資料名:
号: 2010-065  ページ: 3-28 (WEB ONLY)  発行年: 2011年01月
JST資料番号: U0296A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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種々の電磁波あるいは元素粒子線による食品照射は世界に広まっている。照射は遊離ラジカルを油発するので,電子スピン共鳴(ESR)分光法が,食品の照射履歴と照射量を解明するために適用されている。照射された食品中のラジカルの緩和挙動を求めるために,マイクロ波強度を変化させて進行性飽和(PSB)を求めてきた。本研究では,飽和曲線上の全データ点を用いて,非均一な広域帯ESR線のマイクロ波出力依存性を分析するために,コンピュータープログラムが適用された。この理論的解析を用いるマイクロ波飽和ESRスペクトルにより,ラジカルの緩和挙動が明らかにされた。60Coγ線照射(1,3,5keV)が実施されESRスペクトルが求められた。PSB曲線は,P1(鋭い信号)強度がマイクロ波出力につれて直線的に増加し,4-8mW範囲で閾値に遭遇することを示している。放射線量が増加するにつれて,信号強度は高くなる。PSBによるT1とT2の緩和時間を評価でき,T1はμ秒,T2はナノ秒の範囲であった。
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分類 (1件):
分類
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電子スピン共鳴一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
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