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J-GLOBAL ID：201202233996995358   整理番号：12A1173143

電荷に敏感な赤外フォトトランジスタにおける若干の故障機構

Some Failure Mechanisms in Charge-Sensitive Infrared Phototransistors

著者 (6件)： KANG Ting-Ting (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KANG Ting-Ting (JST-CREST, Saitama, JPN) ,  KANG Ting-Ting (Shanghai Inst. Technical Physics, Chinese Acad. Sci., Shanghai, CHN) ,  UEDA Takeji (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  UEDA Takeji (JST-CREST, Saitama, JPN) ,  KOMIYAMA Susumu (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Electron Devices  (IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 59  号： 8  ページ： 2129-2135  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： C0222A  ISSN： 0018-9383  CODEN： IETDAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 単一光子計数は,材料科学,生物学,および天体物理学に対して,絶対に必要なツールである。本論文では,電荷に敏感なフォトトランジスタ(CSIP)のような赤外光子検出器に対して,CSIPの光子応答を無能にする若干の故障機構を調べるために,容量性充電方法を提案し,用いた。2種類の故障機構を強調した。すなわち,サブバンド間-遷移-励起電子に対する量子間ウエル(QW)漏れと低いトンネリング可能性である。QW間AlGaAs障壁におけるAl含有量と故障機構型の相関について論じた。

シソーラス用語： *光子計数 ,  *フォトトランジスタ ,  光検出器 ,  赤外線 ,  機構 ,  故障解析
準シソーラス用語： 単一光子計数 ,  故障機構

分類 (1件)： 赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電荷 ,  赤外 ,  フォトトランジスタ ,  故障