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J-GLOBAL ID：201202236639296823   整理番号：12A0964998

レーザ駆動イオンのための後方散乱粒子を用いたビームプロファイル診断の較正

Calibration of Beam Profile Diagnostic Utilizing Back-Scattered Particles for Laser-driven Ions

著者 (9件)： SAKAKI H. (JAEA) ,  FUKUDA Y. (JAEA) ,  KANASAKI M. (Kobe Univ.) ,  YAMAUCHI T. (Kobe Univ.) ,  HORI T. (JAEA) ,  TAMPO M. (JAEA) ,  KONDO K. (JAEA) ,  KURASHIMA S. (JAEA) ,  KAMIYA T. (JAEA)
資料名： 日本原子力研究開発機構JAEA-Review(Web)
号： 2011-043  ページ： 4-46 (WEB ONLY)  発行年： 2012年01月 
JST資料番号： U0296A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近年レーザプラズマ相互作用からの数十MeVイオンビームがレーザ駆動加速器により生成されている。一般に用いるCR-39検出器の直接検出限界ではエネルギー10MeV/nの⁴He²⁺イオンまでで,新しい検出法が必要となってきた。20MeV/nのイオンでは厚み0.1mmの厚みのCR-39の背面に後方散乱が取り付け,検出器の後方表面で二次粒子を検出してみた。ここではこの後方散乱粒子の利用を提案する。イオンプロファイルの測定には注入イオンと後方散乱粒子との較正が重要となる。散乱体としてアクリル板を選び,検出器の入射側には背景雑音の影響をなくすため6ミクロン厚のアルミニュウムを用いた。校正因子としていくつかのビームエネルギーと照射イオン数を変化させた。⁴He²⁺ビーム照射に対して直接のプロファイルを観測し,対応する後方散乱粒子のエッチピット空間分布を比較した。後方散乱体のある検出器でイオンエネルギーのビーム軸から見たプロファイルでもその推定が可能で混合照射にも対応して強度分布も分かる。

シソーラス用語： *プラズマ相互作用 ,  レーザプラズマ ,  10-100MeV ,  粒子 ,  CR-39 ,  *イオンビーム ,  *ビームモニタリング
準シソーラス用語： *レーザ-プラズマ相互作用 ,  後方散乱粒子 ,  ビームプロファイル診断

分類 (1件)： 電子ビーム,イオンビーム  (BD02030F)

引用文献 (2件)：

• 1) Y. Fukuda et al., Phys. Rev. Lett. 103 (2009) 165002.
• 2) K. Niita et al., Radiat. Meas. 41, (2006) 1080.

タイトルに関連する用語 (6件)： レーザ ,  イオン ,  後方散乱 ,  ビームプロファイル ,  診断 ,  較正