文献

J-GLOBAL ID：201202237449771866   整理番号：12A0094579

低周波磁場を用いたスポット溶接の非破壊検査

著者 (6件)： 堺健司 (岡山大) ,  三宅康介 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  平野佳伸 (大橋製作所) ,  松元光明 (大橋製作所) ,  塚田啓二 (岡山大)
資料名： 日本非破壊検査協会講演大会講演概要集  (日本非破壊検査協会春季講演大会講演概要集)
巻： 2011  号： 春季  ページ： 43-44  発行年： 2011年05月25日 
JST資料番号： L1257A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本研究では,工業分野で広く用いられているスポット溶接の非破壊検査に焦点を当て,低周波磁場を用いた漏洩磁束探傷法により,スポット溶接の非破壊検査を自動化および可視化するシステムの開発を行った。条件を変化させて溶接を行った試料に低周波磁場を印加し,磁場応答をMRセンサで自動計測した結果,溶接状態が良好な試料ほど強い磁場が検出され,多点計測により溶接状態を画像化することにも成功した。これらの結果は,スポット溶接の破壊検査結果と強い相関性を持ち,磁場応答によりスポット溶接を自動検査,可視化できるシステムの開発に成功した。(著者抄録)

シソーラス用語： *点溶接 ,  磁場 ,  *漏れ磁束 ,  *非破壊検査 ,  自動化 ,  可視化 ,  欠陥検査 ,  計測 ,  システム開発 ,  多点計測 ,  改変
準シソーラス用語： 低周波磁場

分類 (1件)： 溶接欠陥  (WC07130P)

タイトルに関連する用語 (4件)： 低周波 ,  磁場 ,  スポット溶接 ,  非破壊検査