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J-GLOBAL ID:201202239031860601   整理番号:12A1773625

3次元電界イオン顕微鏡による粒状CuFeNi系の微細スケール析出物のナノメータスケールの断層観察

Nanometer Scale Tomographic Investigation of Fine Scale Precipitates in a CuFeNi Granular System by Three-Dimensional Field Ion Microscopy
著者 (6件):
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巻: 18  号:ページ: 1129-1134  発行年: 2012年10月 
JST資料番号: W1587A  ISSN: 1431-9276  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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溶液から作成したCuFeNiリボンは,比較的大きな巨大磁気抵抗(GMR)値を示す。粒状合金においては,GMRは析出物のサイズ分布,析出物の密度そして析出物とモフォロジー間の距離といった微細構造パラメータに強く依存する。これまで透過型電子顕微鏡(TEM),またはHRTEMによる直接観察と帯磁率カーブから導出されたサイズは大きな食い違いがあった。本論文では,新しく開発した3次元電界イオン顕微鏡(3D FIM)によりサイズ,モルフォロジー,そして様々な温度条件でアニールしたCu80Fe10Ni10リボンにおける析出構造の詳細な特性について述べている。Cu80Fe10Ni10は,非磁性体基材に埋め込まれた磁性析出物からなる粒状リボンである。3D FIMでの観察の結果,350°C2hrのアニール処理したのち,磁性析出物は,平均4.9nmの直径であったが,400°C2hrの処理では直径は4.2nmに減少した。アニールによりCu-リッチ強誘電体材料と(Fe-Ni)-リッチ析出物がグレイン内部に局在する2つのfcc相が構成される。3D FIM により(Fe-Ni)-リッチ析出物を3次元に可視化することができた。
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分類 (1件):
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顕微鏡法 

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