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J-GLOBAL ID：201202242544570790   整理番号：12A0340371

X線分光分析

X-ray Spectrometry

著者 (5件)： TSUJI Kouichi (Osaka City Univ., Osaka, JPN) ,  NAKANO Kazuhiko (Osaka City Univ., Osaka, JPN) ,  TAKAHASHI Yoshio (Hiroshima Univ., Hiroshima, JPN) ,  HAYASHI Kouichi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  RO Chul-Un (Inha Univ., Incheon, KOR)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 84  号： 2  ページ： 636-668  発行年： 2012年01月17日 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 2010年1月から2011年8月まで報告されたX線分光分析,X線検出器,X線スペクトルに関する解析モデル,データ評価法などの進展並びに改良に関する研究成果を総説した。X線分光法の進歩に関して検出,X線光学,定量及び基礎データ,微小蛍光X線分析及びイメージング,全反射蛍光X線分光法,電子プローブX線分析,PIXE分析,X線吸収分光分析及び応用(試料調製,標準試料,エネルギー分散X線分光分析,微小蛍光X線分析,全反射蛍光X線分光法,電子プローブX線分析,PIXE分析,X線吸収分光分析)の項目に区分して概観した。

シソーラス用語： *X線分光分析 ,  文献展望 ,  放射線検出器 ,  X線スペクトル ,  スペクトル解析 ,  解析モデル ,  蛍光X線分析 ,  蛍光測定 ,  電子プローブX線分析 ,  PIXE分析 ,  X線吸収分光法 ,  エネルギー分散X線分光分析 ,  シンクロトロン放射 ,  試料調製 ,  標準物質 ,  地質学 ,  考古学 ,  資産 ,  鑑別 ,  法医学 ,  X線検出器 ,  X線光学 ,  蛍光イメージング ,  全反射蛍光X線分析 ,  フォレンジックス
準シソーラス用語： EDS【分光分析】 ,  EPMA【表面分析】 ,  XAS ,  科学捜査 ,  文化遺産

分類 (1件)： その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (1件)： X線分光分析