CONSIGLIO S. について
TEL Technol. Center, New York, USA について
CLARK R. D. について
TEL Technol. Center, New York, USA について
BERSCH E. について
Univ. at Albany, New York, USA について
LAROSE J. D. について
Univ. at Albany, New York, USA について
WELLS I. について
Univ. at Albany, New York, USA について
TAPILY K. について
TEL Technol. Center, New York, USA について
LEUSINK G. J. について
TEL Technol. Center, New York, USA について
DIEBOLD A. C. について
Univ. at Albany, New York, USA について
Journal of the Electrochemical Society について
酸化ハフニウム について
化学蒸着 について
蒸着膜 について
焼なまし について
透過型電子顕微鏡 について
X線回折 について
極点図 について
検証 について
構造特性 について
膜厚 について
優先配向 について
単結晶 について
原子層堆積 について
アニーリング処理 について
すれすれ入射X線回折 について
モデル検証 について
シンクロトロン放射光X線回折 について
塩基,金属酸化物 について
酸化物薄膜 について
金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造 について
堆積 について
アニーリング について
原子層堆積 について
HfO2 について
結晶性 について