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J-GLOBAL ID：201202246486759131   整理番号：12A1466417

40nm SRAMsのリアルタイム・ソフトエラー試験

Real-Time Soft-Error Testing of 40nm SRAMs

著者 (9件)： AUTRAN J.L. (Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA) ,  SERRE S. (Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA) ,  MUNTEANU D. (Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA) ,  MARTINIE S. (Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA) ,  SEMIKH S. (Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA) ,  SAUZE S. (Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA) ,  UZNANSKI S. (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  GASIOT G. (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  ROCHE P. (STMicroelectronics, Crolles, FRA)
資料名： Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium  (Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 2012 Vol.1  ページ： 257-265  発行年： 2012年 
JST資料番号： A0631A  ISSN： 1541-7026  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 40nm CMOS技術で測定され,自然放射(大気圏中性子)を受けた7Gbit以上のSRAM回路のリアルタイムソフトエラー率(SER)について報告した。その結果,この技術の多重セルアップセットの極端な重要性と,大きな多重事象が実験的ビットフリップ分布から確信のあるSER値を抽出することを表す困難性を明らかにした。相補的測定により,α粒子分布から中性子を分離し,40nm SRAMの,大気中性子の682FIT/Mbitとα粒子放出の471FIT/Mbitに対するSERを推定できる。

シソーラス用語： 試験 ,  誤り率 ,  ソフトエラー ,  時間 ,  *SRAM ,  配線 ,  α粒子 ,  中性子 ,  *電子回路 ,  信頼性
準シソーラス用語： ソフトエラー試験 ,  リアルタイム

分類 (2件)： 記憶装置  (JC04060F) ,  電子回路一般  (NC05010N)

タイトルに関連する用語 (3件)： リアルタイム ,  ソフトエラー ,  試験