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J-GLOBAL ID:201202246620943114   整理番号:12A0715056

ウエハレベルLED-SiP型モバイルフラッシュモジュールおよび特性化

Wafer-level LED-SiP based mobile flash module and characterization
著者 (7件):
資料名:
巻: 52  号:ページ: 916-921  発行年: 2012年05月 
JST資料番号: C0530A  ISSN: 0026-2714  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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本文では,ウエハレベルLEDシステムインパッケージング(WL-LED-SiP)設計およびプロセスプラットホームを開発し,明らかにした。このプラットホームにより,高いパッケージング密度,高性能,高信頼度および優れた費用効果性でLEDシステムソリューションを得る。マイクロエレクトロメカニカルシステム(MEMS)反射器を含むウエハレベル(WL)プロセスインテグレーション,空洞型リソグラフィー,スルーシリコンビア(TSV)充填などのLED-SiPプラットホーム技術を実証するテストビークルとしてカメラホンフラッシュモジュールを採用した。それと同時に,相関色温度(CCT),演色数(CRI),光エネルギー,配光などのLEDフラッシュモジュール性能を特性化した。ここで得られたLED-SiPフラッシュモジュールの視野角は広く,80°×50°であり,光エネルギーは5.7lx s@1/30sであった。このモジュールの体積は8×11×4mm3である。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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