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J-GLOBAL ID:201202251539084879   整理番号:12A1164799

シンクロトロン放射に基づいたFourier変換赤外マイクロイメージングによる残留指紋中に存在する汚染物質としての微粒子の検出

Detection of microscopic particles present as contaminants in latent fingerprints by means of synchrotron radiation-based Fourier transform infra-red micro-imaging
著者 (6件):
資料名:
巻: 137  号: 15  ページ: 3459-3465  発行年: 2012年08月07日 
JST資料番号: A0392A  ISSN: 0003-2654  CODEN: ANALAO  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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シンクロトロン放射に基づいたFourier変換赤外(SR-FTIR)マイクロイメージング技法を開発し,微粒子の微細構造における高空間分解能非破壊分析に適用した。このSR-FTIRマイクロイメージングの性能を残留指紋中に存在する粉体,クリーム,薬物及び高性能爆薬の検出によって実証した。試料調製なしに種々の日用品に残留した3-ニトロオキシ-2,2-ビス(ニトロオキシメチル)プロピル硝酸塩(PETN),1,3,5-トリニトロ-1,3,5-トリアジナン(RDX),2-メチル-1,3,5-トリニトロベンゼン(TNT)をその場分析することができた。
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分類 (3件):
分類
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有機化合物の物理分析  ,  各種爆薬と推薬  ,  法医学 

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