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J-GLOBAL ID：201202251711476407   整理番号：12A0165337

静電気力顕微鏡によって測定したCdSe/CdTeから成るヘテロナノワイヤにおける電荷分離

Charge separation in CdSe/CdTe hetero-nanowires measured by electrostatic force microscopy

著者 (5件)： SCHAEFER Sebastian (Inst. of Physical Chemistry, Univ. of Hamburg, Grindelallee 117, 20146 Hamburg, DEU) ,  REICH Aina (Inst. of Physical Chemistry, Univ. of Hamburg, Grindelallee 117, 20146 Hamburg, DEU) ,  WANG Zhe (Inst. of Physical Chemistry, Univ. of Hamburg, Grindelallee 117, 20146 Hamburg, DEU) ,  KIPP Tobias (Inst. of Physical Chemistry, Univ. of Hamburg, Grindelallee 117, 20146 Hamburg, DEU) ,  MEWS Alf (Inst. of Physical Chemistry, Univ. of Hamburg, Grindelallee 117, 20146 Hamburg, DEU)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 100  号： 2  ページ： 022110  発行年： 2012年01月09日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 自立した軸性のII型のCdSe/CdTeから成るヘテロナノワイヤの電荷状態を,静電気力顕微鏡によって観察した。Raman分光法によって明確にされたCdSeおよびCdTeの断片は,それぞれ負および正に帯電していることが分かった。局所的な光照射のある場合と無い場合について,電荷状態を観察した。それぞれのナノワイヤ断片に帯電した反対の符号を持つ電荷量は,照射強度の増大に伴って増加し,このことはCdSe/CdTe界面を横切る光励起された電子-正孔対の電荷分離に起因することが分かった。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 力顕微鏡 ,  *セレン化カドミウム ,  *テルル化カドミウム ,  *ヘテロ接合 ,  *ナノワイヤ ,  電荷分離 ,  Ramanスペクトル ,  帯電 ,  電子正孔対 ,  原子間力顕微鏡 ,  顕微鏡観察
準シソーラス用語： 静電気力顕微鏡

分類 (1件)： 13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合  (BM03083P)

タイトルに関連する用語 (4件)： 静電気力顕微鏡 ,  CdSe ,  CdTe ,  電荷分離