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J-GLOBAL ID：201202251999648800   整理番号：12A1114976

トレースに基づくポストシリコン検証における可視性向上のための信号選択について

On Signal Selection for Visibility Enhancement in Trace-Based Post-Silicon Validation

著者 (3件)： LIU Xiao (Chinese Univ. Hong Kong, HKG) ,  XU Qiang (Chinese Univ. Hong Kong, HKG) ,  XU Qiang (Shenzen Inst. Advanced Technol., Chinese Acad. Sci., Shenzhen, CHN)
資料名： IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems  (IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻： 31  号： 8  ページ： 1263-1274  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： B0142C  ISSN： 0278-0070  CODEN： ITCSDI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 設計複雑度の増加と設計段階で用いる抽象モデルの不正確さのため,従来のプレシリコン検証技術(シミュレーション,形式的検証,エミュレーションなど)ではバグの完全除去が困難である。このため,ポストシリコン検証が重要になる。本稿の主な目的は回路中の機能バグの同定である。ポストシリコン検証の問題点は,デバッグする回路がすでに製造されたシリコンであるため回路内部ノードの可視性に限界があることである。この問題の解決策として自動化トレース信号選択方式を提案した。さらに,新たに導入した評価メトリックスによりトレース信号選択アルゴリズムを強化し,ポストシリコン検証における可視性を向上させた。最後にベンチマーク回路の実験結果を示した。

シソーラス用語： *検証 ,  *半導体チップ ,  *超LSI ,  可視度 ,  信号選択 ,  回路試験 ,  電気試験 ,  デバッギング
準シソーラス用語： *シリコンチップ ,  *デバッグ ,  *可視性 ,  集積回路試験

分類 (2件)： 集積回路一般  (NC03161C) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： トレース ,  シリコン ,  検証 ,  可視性