Nanyang Technological Univ., Singapore について
ANG D.S. について
Nanyang Technological Univ., Singapore について
YOUNG C.D. について
Nanyang Technological Univ., Singapore について
BERSUKER G. について
Nanyang Technological Univ., Singapore について
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium について
誘電率 について
MOSFET について
ストレス について
熱安定性 について
信頼性 について
キャリア捕獲 について
漏れ電流 について
高誘電率 について
pMOSFET について
温度ストレス について
負バイアス温度不安定性 について
正孔トラップ について
バルクトラップ について
スイッチング正孔トラップ について
ストレス誘起漏れ電流 について
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バイアス について
温度ストレス について
スイッチング について
正孔トラップ について
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証拠 について