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J-GLOBAL ID:201202252858689666   整理番号:12A0810174

四ステップ構造化光パターンを利用した3Dプロファイル測定のための絶対位相技術

An absolute phase technique for 3D profile measurement using four-step structured light pattern
著者 (9件):
資料名:
巻: 50  号:ページ: 1274-1280  発行年: 2012年09月 
JST資料番号: A0602B  ISSN: 0143-8166  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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本論文の目的は,三角形波形,ステップ波形,二つの四角波形を結合して,四ステップパターン符号化戦略を開発することであった。パターン符号化戦略を提案して,ユニークな位相分布の領域を10πまで拡大した。それは,在来型の四ステップ位相符号化アプローチの2πに比べて5倍大きい。したがって,この符号化戦略では,構造化光ベース計測系により,あいまい性がない状態で複雑オブジェクトを測定できた。あいまい性は,位相シフトアルゴリズムの一般的な限界であった。さらに,この戦略は,画素レベルで高密度3D再生を誘導した。復号化アプローチは,画素独立の計算であり,誤差伝搬を除去し,信頼性を増強できた。位相シフト法と符号化法での位相誤差を数値シミュレーションで比較したが,位相誤差はほぼ一致していた。異なるオブジェクトの実験を実行して,符号化戦略のロバスト性と精度を検証した。この結果,複雑なオブジェクトの3D再生効率が高いことを示した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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光学的測定とその装置一般  ,  図形・画像処理一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
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