文献

J-GLOBAL ID：201202252910729965   整理番号：12A0809103

動的オンラインAVF予測を用いた適応フォールトトレラントDVFS

Adaptive fault-tolerant DVFS with dynamic online AVF prediction

著者 (4件)： FIROUZI Farshad (Nano Electronics Center of Excellence, School of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Tehran, North Kargar ...) ,  AZARPEYVAND Ali (Nano Electronics Center of Excellence, School of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Tehran, North Kargar ...) ,  SALEHI Mostafa E. (Nano Electronics Center of Excellence, School of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Tehran, North Kargar ...) ,  FAKHRAIE Sied Mehdi (Nano Electronics Center of Excellence, School of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Tehran, North Kargar ...)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 52  号： 6  ページ： 1197-1208  発行年： 2012年06月 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シリコン技術の進歩やナノメータレベルへの特徴サイズの縮小により,ナノデバイスの低信頼性や不規則変動がフォールトトレラント設計に対する最重要関心事になる。高信頼度のフォールトトレラント埋込みプロセッサの設計は,ハードウェア冗長性やソフトウェア冗長性を加えて信頼性欠点を補償する技術の開発にほとんど基づいている。最近提案された冗長性付加方法は一般的にシステムの全ての部分に均一に適用されるので,性能,電力および面積について非効率的で,オーバヘッドが大きくなってしまう。過渡故障に遭遇しながらシステム挙動の定量的解析を行うと,不均一冗長性の有効使用が可能になる。本研究では,過渡故障について埋込みプロセッサの挙動を定量的に解析し,実時間でアーキテクチャ脆弱性因子(AVF)を正確に予測する新しい手法を提案する。新しいシリコンプロセッサを設計する場合の他の臨界的関心事は電力消費の問題である。動的電圧周波数制御(DVFS)はシステムの性能およびエネルギー消費の両方を制御する有効な方法である。放射線誘起過渡故障率が動作周波数および供給電圧に依存するので,DVFS法は電子システム信頼度に及ぼす影響を含むことが最近示された。それ故,故障率に及ぼす電圧制御の影響を無視するとシステム信頼度をかなり劣化させる。ここで,本提案のオンラインAVF予測方法論を利用し,解析的誘導に基づいて,マルチプルクロックドメイン(MCD)パイプラインアーキテクチャを含むマルチプロセッサシステムオンチップ(MPSoC)の事例研究において,信頼性を意識した適応動的電圧周波数制御(DVFS)を提案する。そこでは,電力消費,信頼性,性能の三つ全てを同時に考慮して周波数および電圧を制御する。信頼性を意識したDVFSシステムの従来の方法と比較して,本提案のDVFS方法は同じ信頼性レベルで電力を50%節約できる。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *フォールトトレランス ,  *スケーリング【計数】 ,  周波数制御 ,  電圧制御 ,  消費電力 ,  *省エネルギー ,  埋込み【挿入】 ,  *マイクロプロセッサ ,  *冗長性 ,  *システム信頼度 ,  故障解析 ,  定量的分析 ,  実時間処理 ,  *計算機アーキテクチャ ,  エネルギー消費 ,  故障率 ,  *オンライン処理 ,  パイプライン処理 ,  マルチプロセッサシステム ,  超LSI ,  *適応制御
準シソーラス用語： DVFS ,  過渡故障 ,  脆弱性 ,  SOC【IC】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  ディジタル計算機ハードウェア一般  (JC04010C)

タイトルに関連する用語 (6件)： オンライン ,  AVF ,  予測 ,  適応 ,  フォールトトレラント ,  DVFS