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J-GLOBAL ID：201202258217457216   整理番号：12A1304450

被試験装置とTEMセル間の相互影響

Mutual Influence Between the Equipment Under Test and TEM Cells

著者 (1件)： POUHE David (Technical Univ. Berlin, Berlin, DEU)
資料名： IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility  (IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility)
巻： 54  号： 4  ページ： 726-737  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： H0383A  ISSN： 0018-9375  CODEN： IEMCAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近,被試験装置(EUT)の鏡像として表現されるEUTと金属壁を反射するセル間の相互作用が研究されている。本研究では最近報告された枠組みをベースに,モーメント法(MoM)を使って用意されたギガヘルツ横方向電磁場(GTEM)セルの活性効果を研究する一般化アプローチを提案した。このアプローチを正規披試験装置(EUT)としての薄いアンテナに適用し,TEMセルとEUT間の相互結合の効果を理解することにより,アンテナ特性の僅かな変化を捕捉した。このアプローチは電磁場の変位と誘導電流の誤差の研究を可能にするが,それらがこの結合の優秀さの測度であるため,力点はインピーダンス変動とEUT上の総電流分布に置いた。

シソーラス用語： *相互作用 ,  インピーダンス ,  同軸線路 ,  周波数 ,  相互接続 ,  試料 ,  電流
準シソーラス用語： *TEMセル ,  ギガヘルツ ,  相互結合 ,  *被検物 ,  誘導電流

分類 (1件)： 電磁気学一般  (BD01020N)

タイトルに関連する用語 (2件)： 試験装置 ,  TEMセル