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J-GLOBAL ID：201202258712885240   整理番号：12A1592868

プローブの厳密な調査:位相-距離曲線からのHamaker定数を決定するナノテンプレートを経たAFMチッププロファイリング

Probing the probe: AFM tip-profiling via nanotemplates to determine Hamaker constants from phase-distance curves

著者 (5件)： RODRIGUEZ Raul D. (Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU) ,  LACAZE Emmanuelle (CNRS, Inst. Nano-Sci. de Paris (INSP), Paris, FRA) ,  JUPILLE Jacques (CNRS, Inst. Nano-Sci. de Paris (INSP), Paris, FRA) ,  LACAZE Emmanuelle (UPMC Univ Paris 06, Paris, FRA) ,  JUPILLE Jacques (UPMC Univ Paris 06, Paris, FRA)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 121  ページ： 25-30  発行年： 2012年10月 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (8件)： プローブ ,  調査 ,  位相 ,  曲線 ,  Hamaker定数 ,  ナノテンプレート ,  AFMチップ ,  プロファイリング