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J-GLOBAL ID：201202259033271256   整理番号：12A1021733

SRAMに基づくFPGA誤り訂正符号実装のソフトエラー感受性の比較

Comparison of the Susceptibility to Soft Errors of SRAM-Based FPGA Error Correction Codes Implementations

著者 (7件)： LIU S. (Universidad Antonio de Nebrija, Madrid, ESP) ,  SORRENTI G. (Sanitas EG s.r.l., Milano, ITA) ,  REVIRIEGO P. (Universidad Antonio de Nebrija, Madrid, ESP) ,  CASINI F. (Sanitas EG s.r.l., Milano, ITA) ,  MAESTRO J. A. (Universidad Antonio de Nebrija, Madrid, ESP) ,  ALDERIGHI M. (Istituto Nazionale d’Astrofisica, Milano, ITA) ,  MECHA H. (Universidad Complutense de Madrid, Madrid, ESP)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 59  号： 3,Pt.2  ページ： 619-624  発行年： 2012年06月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *SRAM ,  *FPGA ,  *誤り訂正符号 ,  *ソフトエラー ,  感受性 ,  Hamming符号 ,  *SEU【シングルイベント】 ,  コンパレータ ,  復号器
準シソーラス用語： 故障注入

分類 (2件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： SRAM ,  FPGA ,  誤り訂正符号 ,  実装 ,  ソフトエラー ,  感受性