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J-GLOBAL ID：201202259168026642   整理番号：12A1217287

X線光電子分光法:NdとYbイオンをドープしたガラスの表面と深さプロファイリング研究

X-ray photoelectron spectroscopy: surface and depth profiling studies of glasses doped with Nd and Yb ions

著者 (2件)： RIVERA-LOPEZ F. (Universidad de La Laguna, Tenerife, ESP) ,  PEREZ Mariano (Universidad de La Laguna, Tenerife, ESP)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 44  号： 8  ページ： 927-930  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高分解能X線光電子分光法(XPS)を用いて,異なる濃度のNdとYbイオンを共ドープしたリン酸塩ガラスの化学的特性評価を行った。得られた結果は,赤外吸収およびレーザー励起後の発光スペクトルの両者と相関があった。また,XPSの技術は表面と内部のガラスの化学的特性評価を可能にし,これらのガラスの希土類イオンの原子価状態と振動特性に関する情報を提供した。本研究では,NdとYbイオンが+3の原子価状態で存在し,+2の原子価状態の証拠がないことを明らかにした。最も重要な結論は,高分解能X線光電子分光法(XPS)の深さのプロファイリングと発光実験により裏付けられた,元素の均一な分布であった。

シソーラス用語： *ネオジム ,  *イッテルビウム ,  *X線光電子分光法 ,  *深さプロフィル ,  *リン酸塩ガラス ,  発光スペクトル ,  *金属イオン ,  原子価 ,  状態 ,  ルミネセンス ,  赤外レーザ ,  ドーピング
準シソーラス用語： 原子価状態 ,  近赤外レーザ

分類 (1件)： ガラスの性質・分析・試験  (YC02030Z)

タイトルに関連する用語 (8件)： X線光電子分光法 ,  Nd ,  Yb ,  イオン ,  ドープ ,  ガラス ,  深さプロファイリング ,  研究