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J-GLOBAL ID：201202259317547782   整理番号：12A0735936

集束イオンビーム-走査電子顕微鏡法による乾燥塗膜中の顔料分散の三次元的キャラクタリゼーション

Three-Dimensional Characterization of Pigment Dispersion in Dried Paint Films Using Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscopy

著者 (4件)： LIN Jui-Ching (Dow Chemical Co., MI, USA) ,  HEESCHEN William (Dow Chemical Co., MI, USA) ,  REFFNER John (Dow Chemical Co., PA, USA) ,  HOOK John (Dow Chemical Co., PA, USA)
資料名： Microscopy and Microanalysis  (Microscopy and Microanalysis)
巻： 18  号： 2  ページ： 266-271  発行年： 2012年04月 
JST資料番号： W1587A  ISSN： 1431-9276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 統合化集束イオンビーム-走査電子顕微鏡(FIB-SEM)による連続セクショニングと画像分析を用いる撮像技術の組合せが,乾燥塗膜における顔料の三次元(3D)的分散を定量的に特性化できることを示した。FIB-SEMを用いることにより,塗膜の断面のセクショニングと撮像が同期化でき,また妥当な時間内で操作が完了した。FIB-SEMシステムにおける集束イオンビームは,顔料の分布を乱すことなく,極めて薄いスライス(40nm)で顔料のlayer-by-layerアブレーションを可能にした。顔料の大きさが無視できず,形が不規則,かつ顔料が凝集するような複雑な混合系の場合,3D EDM(Euclid距離地図)及び3D UEPs(ultimate eroded points)画像分析法の応用が,3Dにおける顔料分散の程度の定量化を可能にした。

シソーラス用語： *塗膜 ,  *顔料 ,  *三次元 ,  *分散【dispersion】 ,  撮像 ,  画像分析 ,  アブレーション ,  集束イオンビーム ,  電子顕微鏡観察 ,  キャラクタリゼーション ,  距離
準シソーラス用語： Euclid距離 ,  走査電子顕微鏡法 ,  定量化

分類 (1件)： 塗料の性質  (YJ03020Q)

タイトルに関連する用語 (5件)： 集束イオンビーム ,  走査電子顕微鏡法 ,  塗膜 ,  顔料 ,  キャラクタリゼーション