PLACE S. について
ST Microelectronics, Crolles, FRA について
PLACE S. について
Univ. Toulouse, Toulouse, FRA について
CARRERE J.-P. について
ST Microelectronics, Crolles, FRA について
ALLEGRET S. について
ST Microelectronics, Crolles, FRA について
MAGNAN P. について
Univ. Toulouse, Toulouse, FRA について
GOIFFON V. について
Univ. Toulouse, Toulouse, FRA について
ST Microelectronics, Crolles, FRA について
IEEE Transactions on Nuclear Science について
フォトダイオード について
イメージセンサ について
活性化エネルギー について
暗電流 について
放射線効果 について
γ線照射 について
劣化 について
CMOSイメージセンサ について
半導体の放射線による構造と物性の変化 について
光導電素子 について
サブ について
ピンフォトダイオード について
CMOSイメージセンサ について
放射線効果 について