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J-GLOBAL ID:201202262514316017   整理番号:12A1321441

ナノインプリント技術で製作した3Dフィン状チャネルを持つポリSi TFTの特性調査

Study on Characteristics of Poly-Si TFTs With 3-D Finlike Channels Fabricated by Nanoimprint Technology
著者 (3件):
資料名:
巻: 59  号:ページ: 2314-2320  発行年: 2012年09月 
JST資料番号: C0222A  ISSN: 0018-9383  CODEN: IETDAI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ナノワイヤ(NW)またはフィン状チャネルのポリSi TFTはシステムオンパネル(SoP)の埋め込みメモリデバイスとして魅力的であり,Eビームや干渉リソグラフィで作られるがプロセスが複雑である。本研究は,低コストでスループットの高い紫外線ナノインプリントを使って製作した3Dフィン状チャネルのポリSi TFTの特性を記す。線幅/間隔比が1:1のポリSi3Dフィン状チャネルを製作した。このTFTは単チャネルのものと比較して閾値電圧が低く,オン/オフ電流比が大きく,サブ閾値スイングが良好で電界有効移動度が大きい。粒界効果が低減されコーナー効果も改善される。3Dフィン状ポリSi TFTの性能は,3Dフィン状構造の幅/間隔比と高さを増すことによって最適化される。デバイスは低コストの高性能SoP製品に最適である。
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分類 (2件):
分類
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トランジスタ  ,  固体デバイス製造技術一般 

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