文献

J-GLOBAL ID：201202264203334553   整理番号：12A1421971

超伝導膜の臨界電流密度の第3高調波電圧を用いた誘導測定における不確定性の評価

Evaluation of uncertainty in the inductive measurement of critical current densities of superconducting films using third-harmonic voltages

著者 (4件)： YAMASAKI H. (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, JPN) ,  MAWATARI Y. (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, JPN) ,  NAKAGAWA Y. (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, JPN) ,  YAMADA H. (Oshima National Coll. of Maritime Technol., 1091-1 Komatsu SuouOshima-city, Oshima County, Yamaguchi 742-2193, JPN)
資料名： Cryogenics  (Cryogenics)
巻： 52  号： 10  ページ： 544-549  発行年： 2012年10月 
JST資料番号： D0115B  ISSN： 0011-2275  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロ波素子や限流器に使用される大面積超伝導薄膜の臨界電流密度J_cの誘導測定にはいくつかの技法が使われている。もっともよく知られている方法は第3高調波電圧V₃を用いるものである。電界Eの判定基準のもとでJ_cを決定するためのV₃を用いた標準的方法を提案し,標準的方法での不確定性を評価した。実測J_cは超伝導膜の上部表面での磁場に直接比例するため,最も顕著な系統的効果はコイル-膜間距離(Z₁)の規定値からのずれである。Z₁のずれ効果が除去されれば,J_cの不確定性は主に,(a)実験のコイル係数の不確定性と(b)誘導電界Eの過少評価から生ずる。典型的なDyBa₂Cu₃O₇膜に対して,標準的方法における相対的複合標準不確定性を約5%と見積もった。膜エッジのJ_c測定に対する効果についても言及した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *超伝導薄膜 ,  *臨界電流密度 ,  高調波電圧 ,  不確実性 ,  酸化物 ,  銅化合物 ,  バリウム化合物 ,  ジスプロシウム化合物 ,  限流器 ,  *高温超伝導体
準シソーラス用語： 不確定性

分類 (1件)： 酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 超伝導膜 ,  臨界電流密度 ,  高調波電圧 ,  誘導 ,  不確定性 ,  評価