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J-GLOBAL ID:201202267047226337   整理番号:12A0555276

低エネルギーイオンビーム衝撃による界面交換結合の調整:界面粗さによる同調

Tailoring interfacial exchange coupling with low-energy ion beam bombardment: Tuning the interface roughness
著者 (6件):
資料名:
巻: 100  号: 12  ページ: 122409-122409-4  発行年: 2012年03月19日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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Ni80Fe20/NiO膜系におけるNiO表面粗さを確認することによりわれわれはNiO層の低エネルギーイオン衝撃による表面粗さの変化の効果とNiOナノ結晶の異なる温度安定性との相関を取ることができる。交換バイアス磁界と保磁力の実験的およびモデリングによる温度依存性からわれわれは界面粗さを減少させるか,ないしは界面組織を不規則から帯状の形態へと変化させることなどで交換結合強度を強めることを見出した。われわれのこれらの結果は界面混合をとりいれた磁区状態モデルを用いたシミュレーションと良い一致をみている。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
金属の磁区及び磁化過程  ,  金属薄膜 

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