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J-GLOBAL ID：201202269703855500   整理番号：12A1256953

三次元X線回折を用いて数千の粒子の特性を決定する高速法I.重なり回折ピークと実験装置のパラメータ

A fast methodology to determine the characteristics of thousands of grains using three-dimensional X-ray diffraction. I. Overlapping diffraction peaks and parameters of the experimental setup

著者 (3件)： SHARMA Hemant (Delft Univ. Technol., Delft, NLD) ,  HUIZENGA Richard M. (Delft Univ. Technol., Delft, NLD) ,  OFFERMAN S. Erik (Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 45  号： 4  ページ： 693-704  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *多結晶 ,  *微細構造 ,  三次元 ,  *X線回折 ,  *X線顕微鏡 ,  結晶方位 ,  格子歪 ,  粒子 ,  計算機アルゴリズム ,  *パラメータ ,  スペクトル解析

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (5件)： X線回折 ,  重なり ,  回折 ,  実験装置 ,  パラメータ