ナノ材料のX線ピンポイント構造測定とSPring-8のBL40XUでのデバイス

文献

J-GLOBAL ID：201202271145075832 整理番号：12A0099366

X-ray Pinpoint Structural Measurement for Nanomaterials and Devices at BL40XU of the SPring-8

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資料名：
巻： 879 号： Pt.2 ページ： 1238-1241 発行年： 2007年
JST資料番号： D0071C ISSN： 0094-243X 資料種別：会議録 (C)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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