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J-GLOBAL ID：201202272002752350   整理番号：12A0609326

集束イオンビーム-走査電子顕微鏡により三次元で可視化したシリカ-ゴム微細構造

Silica-rubber microstructure visualised in three dimensions by focused ion beam-scanning electron microscopy

著者 (4件)： TUNNICLIFFE L.B. (Queen Mary Univ. London, London, GBR) ,  TUNNICLIFFE L.B. (Sibelco Res. Dev. and Innovation, Whiston, GBR) ,  THOMAS A.G. (Queen Mary Univ. London, London, GBR) ,  BUSFIELD J.J.C. (Queen Mary Univ. London, London, GBR)
資料名： Journal of Microscopy  (Journal of Microscopy)
巻： 246  号： 1  ページ： 77-82  発行年： 2012年04月 
JST資料番号： B0454B  ISSN： 0022-2720  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本報では,タイヤ産業で典型的に使われる粒子状シリカ強化合成ゴムへ,集束イオンビーム-走査電子顕微鏡(FIB-SEM)法を拡張し,三次元微細構造の分散系とトポロジー調査用の強力なツールとして実証した。シリカ充填複合材料微細構造の再構成と表現に向け,FIB-SEM法を応用した。後方散乱電子画像は,ゴムマトリックス,シリカ充填剤,酸化亜鉛(硫黄加硫反応の活性化剤として用いた)間の区別を可能にした。続く画像処理では,ゴム複合材料内の粒子状物質構造の三次元等密度面モデル生成とシリカ充填剤からの酸化亜鉛分離を可能にした。また,有限要素法解析を利用し,本法の開発と応用の可能性に焦点をあてた。

シソーラス用語： *集束イオンビーム ,  *走査電子顕微鏡 ,  *合成ゴム ,  *強化 ,  *充填剤 ,  *粒子 ,  *構造 ,  *微細構造 ,  分散系 ,  位相幾何学 ,  後方散乱 ,  画像 ,  マトリックス【母体】 ,  酸化亜鉛 ,  硫黄 ,  加硫 ,  添加剤 ,  有限要素法 ,  *可視化 ,  *二酸化ケイ素
準シソーラス用語： *シリカ ,  *三次元構造 ,  トポロジー ,  電子後方散乱 ,  活性化剤

分類 (4件)： ゴム  (YH07020M) ,  充填剤,補強材  (YH05030J) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  電子ビーム・イオンビームの応用  (BD02070X)

タイトルに関連する用語 (6件)： 集束イオンビーム ,  走査電子顕微鏡 ,  可視化 ,  シリカ ,  ゴム ,  微細構造