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J-GLOBAL ID：201202272505818919   整理番号：12A0691659

TOF-SIMS(飛行時間型二次イオン質量分析装置)による真菌細胞内脂質局在の解析

著者 (2件)： 田辺公一 (国立感染研) ,  山口正視 (千葉大 真菌医学研究セ)
資料名： 千葉大学真菌医学研究センター報告  (Annual Report of Medical Mycology Research Center, Chiba University)
巻： 15  ページ： 70-71  発行年： 2012年03月 
JST資料番号： J0341B  ISSN： 1347-6920  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (6件)： TOF-SIMS ,  飛行時間 ,  二次イオン質量分析 ,  真菌 ,  脂質 ,  解析