HTS電力応用装置における低温性誘電体物質の絶縁破壊の確認

SEO I. J.; LEE Y. J.; SEONG J. K.; SHIN W. J.; LEE B. W.; KOO J. Y.

文献

J-GLOBAL ID：201202276481250954 整理番号：12A1202852

HTS電力応用装置における低温性誘電体物質の絶縁破壊の確認

Identification of Insulation Defects in Cryogenic Dielectric Materials for the HTS Power Applications

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資料名：
巻： 22 号： 3 ページ： 7701304,1-4 発行年： 2012年06月
JST資料番号： W0177A ISSN： 1051-8223 CODEN： ITASE9 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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