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J-GLOBAL ID:201202279863577847   整理番号:12A0651729

GaN系発光ダイオードにおける内部電場の測定

Measurement of Internal Electric Field in GaN-Based Light-Emitting Diodes
著者 (7件):
資料名:
巻: 48  号: 3-4  ページ: 500-506  発行年: 2012年03月 
JST資料番号: H0432A  ISSN: 0018-9197  CODEN: IEJQA7  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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InGaN/GaNの多重量子井戸(MQW)内には圧電効果によって誘導された大きな内部電場が存在し,これがMQWを有する素子のオプトエレクトロニクス特性に影響をおよぼす。放射効率はピエゾ電界の増加とともに減少する。本論文ではInGaN/GaNのMQW構造内のピエゾ電界を推定するために,光ルミネセンス(PL),エレクトロルミネセンス(ER)および光電流(PC)の分光法を適用し,相互比較および理論計算値と比較した。InGaN/GaNのMQW構造のシミュレーションにおいて明らかになった正確なフラットバンド電圧の決定において考えられる不確かさについて検討した。PL,PCおよびERによって測定したピエゾ電界はそれぞれ,-1.81,-2.12±0.14およびー2.04MV/cmである。これらの値は理論計算値と良く一致する。
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分類 (3件):
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発光素子  ,  分光法と分光計一般  ,  電流,電圧,電荷の計測法・機器 
タイトルに関連する用語 (3件):
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