文献

J-GLOBAL ID：201202285959154556   整理番号：12A0748807

個々の転位セル壁およびセル内部からのマイクロビーム回折を用いた古典的な線プロフィル解析の検証

Validating classical line profile analyses using microbeam diffraction from individual dislocation cell walls and cell interiors

著者 (6件)： LEVINE Lyle E. (National Inst. Standards and Technol., Maryland, USA) ,  GEANTIL Peter (Univ. Southern California, California, USA) ,  LARSON Bennett C. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  TISCHLER Jonathan Z. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  KASSNER Michael E. (Univ. Southern California, California, USA) ,  LIU Wenjun (Argonne National Lab., Illinois, USA)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 45  号： 2  ページ： 157-165  発行年： 2012年04月 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *転位【結晶】 ,  *銅 ,  単結晶 ,  *X線回折 ,  ビーム ,  スペクトル線形 ,  電子顕微鏡観察 ,  透過型電子顕微鏡 ,  非対称性
準シソーラス用語： X線マイクロビーム ,  *シンクロトロンX線回折

分類 (1件)： 金属の格子欠陥  (BK12030F)

タイトルに関連する用語 (7件)： 転位セル ,  セル ,  マイクロビーム ,  回折 ,  プロフィル ,  解析 ,  検証