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J-GLOBAL ID：201202286734289670   整理番号：12A0587865

原子間力顕微鏡を用いた単接合型ナノギャップ電極における抵抗スイッチング現象のその場観察

著者 (6件)： 石田大貴 (京大 大学院) ,  小林圭 (京大 SACI) ,  松重和美 (京大 大学院) ,  清水哲夫 (産業技術総合研) ,  内藤泰久 (産業技術総合研) ,  山田啓文 (京大 大学院)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 59th  ページ： ROMBUNNO.16P-DP3-12  発行年： 2012年02月29日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 原子間力顕微鏡 ,  *間隙 ,  スイッチング ,  その場観察 ,  電圧 ,  波形 ,  電子ビームリソグラフィー ,  白金 ,  *ギャップ結合 ,  電流電圧特性 ,  パルス波形 ,  抵抗スイッチング ,  *細胞生理学的現象
準シソーラス用語： ギャップ接合 ,  *ナノギャップ ,  電圧パルス

分類 (1件)： その他の接合  (BM03088W)

タイトルに関連する用語 (5件)： 原子間力顕微鏡 ,  ナノギャップ電極 ,  抵抗スイッチング ,  現象 ,  その場観察