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J-GLOBAL ID:201202293668095342   整理番号:12A1405185

非晶質酸化物半導体薄膜トランジスタの電気増強に及ぼすマイクロ波アニーリングの効果

Effects of microwave annealing on electrical enhancement of amorphous oxide semiconductor thin film transistor
著者 (4件):
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巻: 101  号: 13  ページ: 132901-132901-4  発行年: 2012年09月24日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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熱炉中アニールの代わりにマイクロ波アニーリング法を用いて非晶質InGaZnO薄膜トランジスタ(a-IGZO TFT)のキャリア移動度が13.5cm2/Vs,しきい電圧が3.28V,及びサブしきい揺動が0.43V/ディケードの電気特性を明らかにした。100sのマイクロ波アニーリングによるTFT性能は450°Cで1hの炉中アニーリングの場合と十分競合する。電気的向上に対する物理メカニズムも推論した。この興味ある材料は低サーマルバジェット及び選択加熱のために,マイクロ波アニーリングは半導体TFTの製造における非晶質酸化物に大いに有望である。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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トランジスタ 

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