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J-GLOBAL ID:201202294204809845   整理番号:12A0964451

ITER TFコイル用大型超伝導導体の歪測定

著者 (11件):
資料名:
号: 2011-014  ページ: 1.4.5 (WEB ONLY)  発行年: 2011年06月 
JST資料番号: U0296A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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工学材料回折装置「匠」の中性子回折を用いた導体の内部歪測定により,ITER TF導体の様な大型超伝導導体についてもNb3Snの歪を測定可能な事を試した。中性子回折により非破壊でNb3Snフィラメント歪を測定出来る事は素線レベルで実証されている。第一目的は中性子回折によるCICC内の歪評価の可能性確認,最終目的はCICCの性能劣化メカニズム解明である。TF導体の測定試料には100mmに切断したCICCを使用する。結果は,CIC導体を構成する素線のNb3Snフィラメントの格子面間隔が直接観測され,内部歪が測定された事を示した。中性子回折による歪測定は導体の内部歪研究の強力なツールとなる。
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分類 (1件):
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超伝導材料 
引用文献 (3件):
  • [1] .Nunoya et al., IEEE Trans. A.ppl_ Supercond., 18 (2008), 1055.
  • [2] K. Matsui et al., :MEE Trans. Appl, Supercond., 19 (2009), 1.470.
  • [3] T. Hemmi et al., IEEE Trans. Appl. Supercond, to be published.

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