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J-GLOBAL ID：201202295022053644   整理番号：12A0816830

区分型固定解,及び多重測定による電気インピーダンス・トモグラフィー,及びDC抵抗問題に関する適合型確率アルゴリズム

ADAPTIVE AND STOCHASTIC ALGORITHMS FOR ELECTRICAL IMPEDANCE TOMOGRAPHY AND DC RESISTIVITY PROBLEMS WITH PIECEWISE CONSTANT SOLUTIONS AND MANY MEASUREMENTS

著者 (2件)： VAN DEN DOEL Kees (Univ. British Columbia, British Columbia, CAN) ,  ASCHER Uri M. (Univ. British Columbia, British Columbia, CAN)
資料名： SIAM Journal on Scientific Computing  (SIAM Journal on Scientific Computing)
巻： 34  号： 1  ページ： A185-A205  発行年： 2012年01月 
JST資料番号： W2093A  ISSN： 1064-8275  CODEN： SJOCE3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： 解 ,  多重 ,  電気インピーダンス ,  トモグラフィー ,  DC ,  問題 ,  確率アルゴリズム