特許

J-GLOBAL ID：201203000161246256

電磁界分布測定装置

発明者： 上村 佳嗣 ,  佐藤 健 ,  川田 宏昭 ,  樫村 宣孝
出願人/特許権者： 国立大学法人宇都宮大学
代理人 (1件)： 山田 毅彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-021255
公開番号（公開出願番号）：特開2012-159479
出願日： 2011年02月02日
公開日（公表日）： 2012年08月23日
要約：

【課題】測定環境に関わらず、より高精度に測定位置を同定して電界分布又は磁界分布を測定することが可能な電磁界分布測定装置を提供することである。【解決手段】電磁界分布測定装置は、赤外光又は紫外光を発光する光源を取り付けた電磁界センサと、前記光源からの赤外光又は紫外光を検出する検出器と、前記検出器における前記赤外光又は紫外光の検出情報及び前記電磁界センサにより測定された電磁界強度に基づいて前記電磁界センサの位置ごとの電磁界分布情報を求める電磁界分布情報生成手段とを備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

赤外光又は紫外光を発光する光源を取り付けた電磁界センサと、 前記光源からの赤外光又は紫外光を検出する検出器と、 前記検出器における前記赤外光又は紫外光の検出情報及び前記電磁界センサにより測定された電磁界強度に基づいて前記電磁界センサの位置ごとの電磁界分布情報を求める電磁界分布情報生成手段と、 を備える電磁界分布測定装置。

IPC (1件)：

G01R 29/08

FI (1件)：

G01R29/08 Z

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 電磁妨害波測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-261590   出願人：株式会社リコー
• 座標入力装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-254471   出願人：シャープ株式会社

審査官引用 (2件)

• 電磁妨害波測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-261590   出願人：株式会社リコー
• 座標入力装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-254471   出願人：シャープ株式会社