特許
J-GLOBAL ID：201203007107884349
金属組織計測方法および金属組織計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-020936
公開番号（公開出願番号）：特開2012-159466
出願日： 2011年02月02日
公開日（公表日）： 2012年08月23日
要約：
【課題】超音波を用いて非破壊により鋼材内部の微細構造を計測可能な金属組織計測方法および金属組織計測装置を提供する。【解決手段】超音波プローブから被測定材としての金属に対して超音波を送信し、内部からの後方散乱波を計測することにより被測定材内の結晶とは異なる微細粒、または微細構造および結晶粒を計測するために、送信する前記超音波の被測定部での中心波長が、前記結晶粒の平均粒径の5倍以下であり、かつ、微細粒の平均粒径の5倍以上である超音波を用いて後方散乱波を計測し、計測した前記後方散乱波から結晶粒による後方散乱波成分を取り除き、微細粒による後方散乱波成分を抽出し、抽出した前記微細粒による後方散乱波成分から、微細粒の体積密度、数密度、及び平均粒径のうちの少なくとも一つを求める。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
超音波プローブから被測定材としての金属に対して超音波を送信し、内部からの後方散乱波を計測することにより被測定材内の結晶粒とは異なる微細粒、または微細構造および結晶粒を計測する金属組織計測方法であって、
送信する前記超音波の被測定部での中心波長が、前記結晶粒の平均粒径の5倍以下であり、かつ、微細粒の平均粒径の5倍以上である超音波を用いて後方散乱波を計測する計測ステップと、
計測した前記後方散乱波から結晶粒による後方散乱波成分を取り除き、微細粒による後方散乱波成分を抽出する抽出ステップと、
抽出した前記微細粒による後方散乱波成分から、微細粒の体積密度、数密度、及び平均粒径のうちの少なくとも一つを求める評価ステップと、
を含むことを特徴とする金属組織計測方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2G047AA06
, 2G047BA03
, 2G047BB02
, 2G047BC14
, 2G047CA01
, 2G047GG32
, 2G047GG38
