特許
J-GLOBAL ID:201203021743983031

接触測定を用いる臨界CFAE部位の同定

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 加藤 公延 ,  大島 孝文
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-268824
公開番号(公開出願番号):特開2012-120843
出願日: 2011年12月08日
公開日(公表日): 2012年06月28日
要約:
【課題】細分化電位図の高信頼度マッピングのための改良された方法及びシステムを提供する。【解決手段】マッピングのための方法は、被験者の心臓の室内の対応する位置にてプローブによって測定された電気入力を受信することを含む。電気入力は、コンプレックス細分化電位図を同定するために処理される。対応する位置それぞれにて、プローブと室内の組織との間のそれぞれの接触品質が測定される。電気入力及び測定された接触品質を用いて、室内のコンプレックス細分化電位図のマップが作成される。【選択図】図1
請求項(抜粋):
マッピングのための方法であって、 被験者の心臓の室内の対応する位置にてプローブによって測定された電気入力を受信することと、 コンプレックス細分化電位図を同定するために前記電気入力を処理することと、 前記対応する位置それぞれにて、前記プローブと前記室内の組織との間のそれぞれの接触品質を測定することと、 前記電気入力及び前記測定された接触品質を用いて前記室内の前記コンプレックス細分化電位図のマップを作成することと を含む、方法。
IPC (4件):
A61B 18/12 ,  A61B 5/040 ,  A61B 5/047 ,  A61B 5/049
FI (3件):
A61B17/39 ,  A61B5/04 310M ,  A61B5/04 300J
Fターム (8件):
4C027AA01 ,  4C027BB05 ,  4C027HH13 ,  4C160KK03 ,  4C160KK07 ,  4C160KK13 ,  4C160KK30 ,  4C160KK63
引用特許:
審査官引用 (3件)

前のページに戻る