特許
J-GLOBAL ID:201203022758265352

多孔質材料の緻密さ評価方法および多孔質材料の緻密さ評価システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 特許業務法人 インテクト国際特許事務所 ,  石川 泰男 ,  石橋 良規
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-166143
公開番号(公開出願番号):特開2012-026883
出願日: 2010年07月23日
公開日(公表日): 2012年02月09日
要約:
【課題】現場で多孔質材料の緻密さを精度よく測定する。【解決手段】多孔質材料に識別材を吸収または吸着させる識別処理前の多孔質材料の特性を測定して基準値を決定し、前記識別処理後の多孔質材料の特性を測定して識別処理値を決定し、前記基準値と識別処理値との差としての特性値を決定し、前記特性値に基づいて前記多孔質材料の緻密さを決定する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
多孔質材料に識別材を吸収または吸着させる識別処理前の多孔質材料の特性を測定して基準値を決定し、 前記識別処理後の多孔質材料の特性を測定して識別処理値を決定し、 前記基準値と識別処理値との差としての特性値を決定し、 前記特性値に基づいて前記多孔質材料の緻密さを決定する、 多孔質材料の緻密さ評価方法。
IPC (1件):
G01N 15/08
FI (1件):
G01N15/08 H
引用文献:
審査官引用 (4件)
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