特許
J-GLOBAL ID：201203026005723930

眼科撮影装置

発明者：
佐竹 倫全

佐竹 倫全 について


出願人/特許権者：
株式会社ニデック

株式会社ニデック について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-023185
公開番号（公開出願番号）：特開2012-161427
出願日： 2011年02月04日
公開日（公表日）： 2012年08月30日
要約：
【課題】 断層画像の画像欠陥部分や組織構造上画像取得の困難な部位を画像化できる。【解決手段】 測定光源から出射された光を測定光と参照光に分割し、所定部位で反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出する干渉光学系と、干渉光学系における測定光の光路中に配置され、所定部位上で測定光を走査させる光スキャナと、光スキャナを制御し,所定部位上のある撮影領域に対して測定光を走査させ、検出器からの撮像信号を処理することにより撮影領域における断層画像を取得する制御手段と、撮影領域に対する測定光の入射角を変更する入射角変更手段と、を備え、撮影領域に関して入射角が異なる複数の断層画像を取得する画像取得手段と、画像取得手段によって取得された入射角が異なる複数の断層画像を,画像処理により合成し、合成断層画像を取得する画像処理手段と、を備える。【選択図】 図9
請求項（抜粋）：
測定光源から出射された光を測定光と参照光に分割し、前記測定光を被検者眼の所定部位に導く一方、前記参照光を参照光学系に導き、前記所定部位で反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出する干渉光学系と、 前記干渉光学系における測定光の光路中に配置され、前記所定部位上で測定光を走査させる光スキャナと、 前記光スキャナを制御し,前記所定部位上のある撮影領域に対して測定光を走査させ、前記検出器からの撮像信号を処理することにより前記撮影領域における断層画像を取得する制御手段と、前記撮影領域に対する測定光の入射角を変更する入射角変更手段と、を備え、前記撮影領域に関して前記入射角が異なる複数の断層画像を取得する画像取得手段と、 前記画像取得手段によって取得された前記入射角が異なる複数の断層画像を,画像処理により合成し、合成断層画像を取得する画像処理手段と、 を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
IPC (3件)：
A61B 3/10 ,  A61B 3/12 ,  G01N 21/17
FI (3件)：
A61B3/10 R ,  A61B3/12 E ,  G01N21/17 630
Fターム (17件)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE17 ,  2G059FF02 ,  2G059GG09 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01
引用特許：
審査官引用 (5件)
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