光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長尾達也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-177108
公開番号（公開出願番号）：特開2010-012166
出願日： 2008年07月07日
公開日（公表日）： 2010年01月21日
要約：

【課題】断層画像の撮像に際し、コントラストが高い断層像の撮像が可能となる光断層画像撮像装置等を提供する。【解決手段】被検査物によって反射あるいは散乱された測定光による戻り光と、参照ミラーによって反射された参照光とを用い、前記被測定対象の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、測定光を被検査物に導く光路中に配設された前記測定光の強度を可変する光強度可変手段と、光強度可変手段を通過した測定光の前記被検査物に対する照明状態を可変する、交換可能とされた絞りにより構成された照明状態可変手段と、前記照明状態可変手段によって、前記測定光の中心部を遮光しない状態で取得された第一の断層画像と、前記測定光の中心部を遮光した状態で取得された第二の断層画像とを重ね合わせ第三の断層画像を形成する手段と、を有する構成とする。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、前記被測定対象の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、前記測定光を被検査物に導く光路中に配設された前記測定光の強度を可変する光強度可変手段と、前記光強度可変手段を通過した前記測定光の前記被検査物に対する照明状態を、該測定光の中心部を遮光しない照明状態と遮光した照明状態とに可変する照明状態可変手段と、前記照明状態可変手段によって、前記測定光の中心部を遮光しない状態で取得された第一の断層画像と、前記測定光の中心部を遮光した状態で取得された第二の断層画像とを重ね合わせ、コントラストの高い第三の断層画像を形成する手段と、を有することを特徴とする光断層画像撮像装置。

IPC (2件)：

A61B 3/10 , G01N 21/17

FI (2件)：

A61B3/10 Z , G01N21/17 630

Fターム (19件)：

2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059DD12 , 2G059EE09 , 2G059FF01 , 2G059HH01 , 2G059HH06 , 2G059JJ02 , 2G059JJ11 , 2G059JJ13 , 2G059JJ15 , 2G059JJ17 , 2G059JJ18 , 2G059JJ22 , 2G059JJ25 , 2G059JJ30 , 2G059KK03 , 2G059LL01 , 2G059MM09

引用特許：

出願人引用 (1件)

医療用表示装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-374877 出願人：三鷹光器株式会社

審査官引用 (6件)

光学特性測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-042940 出願人：株式会社トプコン
角膜内皮細胞像撮影装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-084139 出願人：株式会社トプコン
眼科撮影装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-204425 出願人：株式会社ニデック

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