特許
J-GLOBAL ID：201203033700075180
濃度定量装置及び濃度定量方法並びにプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (2件)：
志賀 正武
, 大浪 一徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-230558
公開番号（公開出願番号）：特開2012-081123
出願日： 2010年10月13日
公開日（公表日）： 2012年04月26日
要約：
【課題】観測対象のうち任意の層からの後方散乱光を他の層からの光と区別することで、任意の層における目的成分の濃度を、非侵襲的にかつ精度良く定量することができる濃度定量装置及び濃度定量方法並びにプログラムを提供する。【解決手段】本発明の濃度定量装置300は、照射部304と、受光部305と、光路長分布記憶部302と、光路長取得部307と、時間分解波形記憶部303と、計測光強度取得部306と、計測光強度取得部306が取得した光強度分布と、光路長取得部307が取得した光路長と、無吸収時光強度取得部308が取得した光強度モデルとに基づいて任意の層の光強度分布に対応する積分区間を算出する積分区間算出部309と、積分区間を変化させて任意の層の目的成分の光吸収係数を算出する光吸収係数算出部310と、光吸収係数算出部310が取得した光吸収係数に基づいて任意の層の目的成分の濃度を算出する濃度算出部313とを備えている。【選択図】図9
請求項（抜粋）：
複数の層により構成される観測対象のうち、任意の層における目的成分の濃度を定量する濃度定量装置であって、
前記観測対象に短時間パルス光を照射する照射部と、
前記短時間パルス光の照射により前記観測対象から後方散乱される光を受光する受光部と、
前記観測対象に対して照射する短時間パルス光の、前記複数の層の各々の層における光路長分布のモデルを記憶する光路長分布記憶部と、
前記光路長分布のモデルの所定の時刻における、前記複数の層の各々の層の光路長を取得する光路長取得部と、
前記観測対象に対して照射する短時間パルス光の時間分解波形のモデルを記憶する時間分解波形記憶部と、
時間分解波形のモデルの前記所定の時刻における光強度を取得する光強度モデル取得部と、
前記受光部が受光した前記光の強度を取得する光強度取得部と、
前記光強度取得部が取得した前記光の強度の光強度分布と、前記光路長取得部が取得した前記複数の層の各々の層の光路長と、前記光強度モデル取得部が取得した光強度モデルとに基づいて、前記光強度分布から前記任意の層の光強度分布に対応する領域の時間の範囲である積分区間を算出する積分区間算出部と、
前記積分区間算出部が算出した前記積分区間を変化させて前記任意の層における目的成分の光吸収係数を算出する光吸収係数算出部と、
前記光吸収係数算出部が取得した前記目的成分の光吸収係数に基づいて、前記任意の層における前記目的成分の濃度を算出する濃度算出部と、
を備えてなることを特徴とする濃度定量装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B5/14 322
, G01N21/35 Z
2G059AA01
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059FF01
, 2G059FF04
, 2G059GG08
, 2G059HH01
, 2G059MM01
, 2G059MM10
, 4C038KK10
, 4C038KL05
, 4C038KL07
, 4C038KM01
, 4C038KX02
