X線撮像用シリコン検出器アセンブリ

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：勝沼宏仁 , 佐藤泰和 , 川崎康 , 関根毅 , 赤岡明 , 出口智也
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-550091
公開番号（公開出願番号）：特表2012-517604
出願日： 2010年02月01日
公開日（公表日）： 2012年08月02日
要約：

X線撮像用シリコン検出器は、全検出器領域を形成するように互いに配列された複数の半導体検出器モジュール(A)に基づいており、各半導体検出器モジュールは、入ってくるX線に対して横向きに向けられ、かつ40keVと250keVの間の入射X線エネルギーに関して光電効果およびコンプトン散乱を介してX線センサ中で相互作用するX線を登録するための集積回路に接続された結晶シリコンのX線センサを備えて、これらの相互作用から物体の画像を可能にする空間およびエネルギー情報を供給する。さらに、散乱防止モジュール(B)が、コンプトン散乱X線を少なくとも部分的に吸収するように半導体検出器モジュールの少なくともサブセット間に折り込まれている。

請求項（抜粋）：

物体のX線撮像用の光子計数シリコン検出器であって、前記検出器は、全検出器領域を形成するように互いに配列された複数の半導体検出器モジュールに基づいており、各半導体検出器モジュールは、入ってくるX線に対して横向きに向けられ、かつ40keVと250keVの間の入射X線エネルギーに関して光電効果およびコンプトン散乱を介してX線センサ中で相互作用するX線を登録するための集積回路に接続された、結晶シリコンの前記X線センサを備えて、これらの相互作用から前記物体の画像を可能にする空間およびエネルギー情報を供給するものであり、散乱防止モジュールが、コンプトン散乱X線を少なくとも部分的に吸収するように前記半導体検出器モジュールの少なくともサブセット間に折り込まれている、光子計数シリコン検出器。

IPC (1件)：

G01T 1/24

FI (1件)：

G01T1/24

Fターム (3件)：

2G088FF04 , 2G088GG21 , 2G088JJ29

引用特許：

出願人引用 (7件)

半導体放射線検出器
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-057743 出願人：株式会社レイテック
特開昭60-078376
特開平2-259590

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審査官引用 (9件)

半導体放射線検出器
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-057743 出願人：株式会社レイテック
特開昭60-078376
特開昭60-078376

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