特許

J-GLOBAL ID：201203052044416035

回路故障検出装置、回路故障検出方法

発明者： 佐々木 悠 ,  ▲崎▼山 一男 ,  太田 和夫
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社 ,  国立大学法人電気通信大学
代理人 (4件)： 中尾 直樹 ,  中村 幸雄 ,  義村 宗洋 ,  草野 卓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-275596
公開番号（公開出願番号）：特開2012-122931
出願日： 2010年12月10日
公開日（公表日）： 2012年06月28日
要約：

【課題】LSI(暗号LSIを含む)の故障検出を、回路の内部データの漏えいを防ぎ、かつ低コストかつ簡易に実現できる。【解決手段】nを1以上の正の整数とし、入力値Aと入力値Bとが互いに異なる場合に、入力値Aに対応する出力値Uと、入力値Bに対応する出力値Vとが互いに異なる可能性の高いアルゴリズムを実装したnビットの値を入出力する回路(以下、アルゴリズム実装回路2という)の故障を検出する回路故障検出装置10であって、アルゴリズム実装回路2に、互いに異なる2n個のnビットの検査値を1個ずつ入力できる検査値入力部11と、検査値に対応するアルゴリズム実装回路2の出力値のうち、互いに値が等しい出力値が検出された場合に、当該アルゴリズム実装回路2が故障していると判定する故障検出部12とを備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

nを1以上の正の整数とし、入力値Aと入力値Bとが互いに異なる場合に、入力値Aに対応する出力値Uと、入力値Bに対応する出力値Vとが互いに異なる可能性の高いアルゴリズムを実装したnビットの値を入出力する回路(以下、アルゴリズム実装回路という)の故障を検出する回路故障検出装置であって、 前記アルゴリズム実装回路に、互いに異なる2n個のnビットの検査値を1個ずつ入力できる検査値入力部と、 前記検査値に対応する前記アルゴリズム実装回路の出力値のうち、互いに値が等しい出力値が検出された場合に、当該アルゴリズム実装回路が故障していると判定する故障検出部と、 を備えることを特徴とする回路故障検出装置。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/319

FI (4件)：

G01R31/28 H ,  G01R31/28 P ,  G01R31/28 R ,  G01R31/28 U

Fターム (6件)：

2G132AD06 ,  2G132AE06 ,  2G132AE14 ,  2G132AG01 ,  2G132AK07 ,  2G132AL00

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭62-115941
  
• 特開平3-039671
  
• 半導体デバイス試験装置及び試験方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-179047   出願人：株式会社アドバンテスト