特許
J-GLOBAL ID：201203055608325450

電子機器部品再利用支援方法、電子機器部品再利用支援システム、電子機器部品再利用支援装置および電子機器製品

発明者：
小池 正明

小池 正明 について

, 
柴田 裕司

柴田 裕司 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (2件)： 磯野 道造 ,  多田 悦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-200406
公開番号（公開出願番号）：特開2012-058932
出願日： 2010年09月08日
公開日（公表日）： 2012年03月22日
要約：
【課題】電子機器製品の構成部品の残存寿命の評価を可能にし、修理対象の電子機器製品自身の残存寿命に応じた適切な残存寿命を有する再利用部品の利用を可能にする。【解決手段】電子機器製品2は、部品20に温度センサ22および稼働時間計測センサ23を設け、その計測データに基づき各部品20の使用状況履歴データを作成し、使用状況履歴データ記憶部25に記憶する。電子機器部品再利用支援装置1は、電子機器製品2解体時に、使用状況履歴データ記憶部25から使用状況履歴データを読み出し、解体部品の残存寿命を算出し、その残存寿命を再利用部品データベース125に格納する。また、電子機器製品2修理時には、再利用部品データベース125を検索して、修理対象部品と部品名称および型式が同じで、その残存寿命が修理対象の電子機器製品2全体の残存寿命よりも長いものを抽出し、その抽出した再利用部品で修理対象部品を交換修理する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
複数の部品からなる電子機器製品の修理時における再利用部品の利用を、演算処理装置、記憶装置および表示装置を少なくとも含んでなるコンピュータによって支援する電子機器部品再利用支援方法であって、 前記電子機器製品は、 自身を構成する部品についてその稼動状況を含む使用環境データを計測する使用環境計測センサと、 前記使用環境計測センサによって計測された使用環境データを用いて前記部品の使用状況履歴データを作成するデータ処理部と、 前記作成された部品の使用状況履歴データを記憶する使用状況履歴データ記憶部と、 前記使用状況履歴データ記憶部に記憶されている使用状況履歴データを外部へ出力する履歴データ供給ポートと、 を備え、 前記コンピュータは、 前記電子機器製品の履歴データ供給ポートに通信可能に接続されたとき、前記履歴データ供給ポートから出力される使用状況履歴データを入力する履歴データ取得ポート を備え、 前記記憶装置は、 前記電子機器製品で再利用可能な部品として在庫されている部品について、その部品の名称と型式と製造識別番号と残存寿命とを対応付けたデータを、再利用部品データとして記憶した再利用部品データベースを有し、 前記演算処理装置は、 前記履歴データ供給ポートおよび前記履歴データ取得ポートを介して、前記使用状況履歴データ記憶部から前記使用状況履歴データを読み出し、 前記読み出した使用状況履歴データに基づき、前記電子機器製品全体としての残存寿命を算出し、 別途指定された修理対象の故障部品と名称および型式が同じの再利用部品で、かつ、その残存寿命が前記算出した電子機器製品全体としての残存寿命よりも長い再利用部品を検索するという検索条件の下に、前記再利用部品データベースを検索し、 前記検索により前記検索条件に該当する1つ以上の再利用部品が抽出された場合には、前記抽出された1つ以上の再利用部品の中から1つの再利用部品を選択し、前記選択した再利用部品を修理で用いるべき再利用部品として、その再利用部品の製造識別番号を前記表示装置に表示すること を特徴とする電子機器部品再利用支援方法。
IPC (1件)：
G06Q 50/10
FI (1件)：
G06F17/60 138
引用特許：
審査官引用 (4件)
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