特許
J-GLOBAL ID:201203056601531891

近赤外線カットフィルター、およびそれを備える固体撮像素子ならびに固体撮像装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人SSINPAT
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-249815
公開番号(公開出願番号):特開2012-103340
出願日: 2010年11月08日
公開日(公表日): 2012年05月31日
要約:
【課題】視野角が広く、さらに、近赤外線カット能に優れ、更にハンダリフロー工程での使用に適した耐熱性を有する、特にCCD、CMOS等の固体撮像装置用に好適に用いることができる近赤外線カットフィルターを得る。【解決手段】ガラス基板の少なくとも片面に樹脂層を有する積層板を含み、透過率が下記(B)〜(C)を満たすことを特徴とする。(B)波長800〜1000nmの範囲において、近赤外線カットフィルターの垂直方向から測定した場合の透過率の平均値が20%以下(C)800nm以下の波長領域において、近赤外線カットフィルターの垂直方向から測定した場合の透過率が70%となる最も長い波長(Xa)と、波長580nm以上の波長領域において、近赤外線カットフィルターの垂直方向から測定した場合の透過率が30%となる最も短い波長(Xb)との差の絶対値|Xa-Xb|が75nm未満【選択図】なし
請求項(抜粋):
ガラス基板の少なくとも片面に樹脂層を有する積層板を含み、透過率が下記(A)〜(D)を満たすことを特徴とする近赤外線カットフィルター。 (A)波長430〜580nmの範囲において、近赤外線カットフィルターの垂直方向から測定した場合の透過率の平均値が75%以上 (B)波長800〜1000nmの範囲において、近赤外線カットフィルターの垂直方向から測定した場合の透過率の平均値が20%以下 (C)800nm以下の波長領域において、近赤外線カットフィルターの垂直方向から測定した場合の透過率が70%となる最も長い波長(Xa)と、波長580nm以上の波長領域において、近赤外線カットフィルターの垂直方向から測定した場合の透過率が30%となる最も短い波長(Xb)との差の絶対値|Xa-Xb|が75nm未満 (D)波長560〜800nmの範囲において、近赤外線カットフィルターの垂直方向から測定した場合の透過率が50%となる波長の値(Ya)と、近赤外線カットフィルターの垂直方向に対して30°の角度から測定した場合の透過率が50%となる波長の値(Yb)の差の絶対値|Ya-Yb|が15nm未満
IPC (3件):
G02B 5/22 ,  B32B 7/02 ,  B32B 17/10
FI (3件):
G02B5/22 ,  B32B7/02 103 ,  B32B17/10
Fターム (32件):
2H048CA12 ,  2H048CA17 ,  2H048CA24 ,  2H048CA29 ,  4F100AG00A ,  4F100AK01B ,  4F100AK02B ,  4F100AK24D ,  4F100AK25D ,  4F100AK41B ,  4F100AK49B ,  4F100AK53D ,  4F100AK54B ,  4F100AK55B ,  4F100AT00A ,  4F100BA02 ,  4F100BA05 ,  4F100BA07 ,  4F100BA10A ,  4F100BA10B ,  4F100BA10C ,  4F100BA11C ,  4F100CA07B ,  4F100GB90 ,  4F100JB12D ,  4F100JD06E ,  4F100JD10 ,  4F100JG05C ,  4F100JJ03B ,  4F100JN01E ,  4F100JN08 ,  4F100YY00
引用特許:
審査官引用 (4件)
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