特許
J-GLOBAL ID：201203065879588290
分光分析装置及び方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (6件)：
志賀 正武
, 高橋 詔男
, 渡邊 隆
, 鈴木 三義
, 西 和哉
, 村山 靖彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-133211
公開番号（公開出願番号）：特開2011-257306
出願日： 2010年06月10日
公開日（公表日）： 2011年12月22日
要約：
【課題】近赤外光及び赤外光のスペクトルについての知識が十分でなくとも、サンプルの特性を容易且つ短時間で分析することができる分光分析装置及び方法を提供する。【解決手段】分光分析装置1は、近赤外光スペクトル測定部40で測定された近赤外光のスペクトルと赤外光スペクトル測定部30で測定された赤外光のスペクトルとを合成して合成スペクトルを得た後に、予め測定された基準スペクトルと合成スペクトルとの差スペクトルを求め、この差スペクトルを用いて二次元相関演算を行って近赤外光のスペクトルと赤外光のスペクトルとの相関を求めるPC70を備える。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
近赤外光をサンプルに照射して近赤外光のスペクトルを測定する第1測定部と、赤外光をサンプルに照射して赤外光のスペクトルを測定する第2測定部と、前記第1,第2測定部で測定されたスペクトルを用いてサンプルの特性を分析する分析部とを備える分光分析装置において、
前記分析部は、前記第1測定部で測定された近赤外光のスペクトルと前記第2測定部で測定された赤外光のスペクトルとを合成して合成スペクトルを得る第1演算手段と、
予め測定された基準スペクトルと前記合成スペクトルとの差スペクトルを求める第2演算手段と、
前記第2演算手段で求められた前記差スペクトルを用いて二次元相関演算を行い、近赤外光のスペクトルと赤外光のスペクトルとの相関を求める第3演算手段と
を備えることを特徴とする分光分析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2G059AA01
, 2G059BB04
, 2G059CC01
, 2G059EE01
, 2G059EE10
, 2G059HH01
, 2G059JJ17
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059MM02
, 2G059MM03
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 2G059MM12
, 2G059PP02
, 2G059PP06
