特許
J-GLOBAL ID：201203079081075871
端面検査方法および端面検査装置
発明者：
,
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
杉谷 勉
, 戸高 弘幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-042372
公開番号（公開出願番号）：特開2012-181031
出願日： 2011年02月28日
公開日（公表日）： 2012年09月20日
要約：
【課題】積層体の端面に沿って上下向きのバリなどの欠陥部位を精度よく求める。【解決手段】撮像画像データから積層体の領域を求め、積層体の領域の画像データを利用して最小二乗法により当該領域を矩形近似し、当該矩形と積層体の領域合わせ込み、積層体の領域からフィッティング後の領域の差分をとり、塗布物質の欠陥部位を求めるとともに、芯材の領域の画像データを利用して最小二乗法により当該領域を矩形近似して芯材の領域と合わせ込み、芯材の領域からフィッティング後の矩形領域の差分をとり、芯材の欠陥部位を求める。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
芯材に塗布物質を塗布して形成した積層体の端面を検査する端面検査方法であって、
前記端面を撮影する撮影過程と、
前記撮影過程で取得した画像データから前記積層体の領域を求める第1領域抽出過程と、
前記第1領域抽出過程で求めた積層体の領域の画像データを利用して当該領域に近似する矩形を求める第1矩形近似過程と、
前記積層体の領域から前記矩形の領域の差分をとり、余った領域を予め決めた基準値との比較から塗布物質の欠陥部位を求める第1欠陥部位算出過程と、
前記撮影過程で取得した画像データから前記芯材の領域を求める第2領域抽出過程と、
前記第2領域抽出過程で求めた芯材の領域の画像データを利用して当該領域に近似する矩形を求める第2矩形近似過程と、
前記芯材の領域から前記矩形の領域の差分をとり、余った領域を予め決めた基準値との比較から芯材の欠陥部位を求める第2欠陥部位算出過程と、
を備えたことを特徴とする端面検査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (10件)：
2G051AA32
, 2G051AA37
, 2G051AB05
, 2G051AB12
, 2G051BA02
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051EA08
, 2G051EA16
, 2G051ED01
