特許

J-GLOBAL ID：201203079923900442

画像処理装置及び外観検査方法

発明者： 佐伯 和人 ,  井上 泰平
出願人/特許権者： 株式会社キーエンス
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-160711
公開番号（公開出願番号）：特開2012-021909
出願日： 2010年07月15日
公開日（公表日）： 2012年02月02日
要約：

【課題】 距離画像を用いて外観検査を行う際に、メモリ資源の効率的な活用と検出精度の低下を防ぐ。【解決手段】 3次元形状のワークを撮像するカメラ30からワーク表面までの距離に応じて各画素の濃淡値が変化する距離画像を生成し、生成された距離画像からその距離画像に含まれるワーク固有の形状情報を削減するために、生成された距離画像の一部又は全部の画素について、それぞれ形状情報に基づく濃淡値との差分を求め、形状情報が削減された距離画像を用いて画像処理を実行し、ワークの良否を判定し、判定結果を示す判定信号を出力する。【選択図】 図4

請求項（抜粋）：

ワークを撮像するカメラを有し、当該カメラから取得した画像に基づいてワークの良否を判定する画像処理装置において、 前記カメラから取得した画像を用いて、前記カメラからワーク表面までの距離を算出する距離算出手段と、 各画素が、算出された距離に応じた第1の階調の濃淡値を有する距離画像を生成する距離画像生成手段と、 生成された距離画像の一部又は全部の画素の濃淡値から予め定められた立体形状情報に基づく値を差し引いて差分画像を求める立体形状情報削減手段と、 階調数が第1の階調よりも少ない第2の階調の画像を取り扱うとともに、前記差分画像から特徴量を算出する特徴量算出手段と、 算出された特徴量に基づいて、ワークの良否を判定する判定手段と、を備えることを特徴とする画像処理装置。

IPC (2件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/30

FI (2件)：

G01N21/88 J ,  G01B11/30 A

Fターム (28件)：

2F065AA11 ,  2F065AA49 ,  2F065DD07 ,  2F065FF04 ,  2F065GG16 ,  2F065JJ05 ,  2F065PP11 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ39 ,  2F065RR09 ,  2F065SS04 ,  2F065SS13 ,  2G051AA01 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EB09 ,  2G051EC02 ,  2G051ED21

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 物品検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-286605   出願人：住友ゴム工業株式会社, 株式会社モリテックス, 澁谷工業株式会社
• 特開平4-208803
  
• 三次元形状の欠陥検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-377116   出願人：スズキ株式会社
• 特開平4-169803
  
• 回路実装基板の外観検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-065271   出願人：松下電器産業株式会社