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J-GLOBAL ID:201302200567234685   整理番号:13A0235597

小角中性子およびX線散乱による澱粉顆粒中の大規模構造の特性化

Characterisation of large scale structures in starch granules via small-angle neutron and X-ray scattering
著者 (2件):
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巻: 91  号:ページ: 444-451  発行年: 2013年01月02日 
JST資料番号: E0961A  ISSN: 0144-8617  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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小角散乱(SAS)技術は澱粉粒の半結晶ラメラ構造を照明する顕著な実績をもつ。現在までに,このような年輪,ブロックレットや気孔,また,どのようにこれらの構造が半結晶ラメラ構造に起因するよく知られた散乱を調節できると思われる画像化技術から報告された大規模構造を特性化するためのSASの技術を使用するいくつかの試みがなされている。本研究では拡張q範囲で収集したSASデータを,様々な植物源由来乾燥および水和澱粉末から収集した。中性子とX線使用だけでなく,比較乾燥および水和顆粒,散乱長密度のコントラストの許容される異なるレベルの使用が,プローブが実施されるための選択構造領域を強調表示した。最低Qレンジ,0.002~0.04Å-1は,特に乾燥粉末での澱粉粒自体からの散乱の支配を受けることが見出されたが,低コントラスト構造から変曲点は0.035Å-1で観察された。関連散乱は,小ブロックレットまたは超螺旋性に匹敵する半径~90Åの構造と相関する変曲点を有する,統一化散乱枠組みの中で解釈した。水和澱粉において,約0.004Å-1でラメラとq-4べき乗則散乱領域間に変曲点が存在することが観察されたが,これは年輪と大ブロックレットと相関性があった。澱粉ラメラ散乱の既存モデルに関するこれらの知見の意義を議論した。Copyright 2013 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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糖質・糖鎖一般 
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